Измерение параметров полупроводниковых приборов (ППП) и контроль тест-структур на пластинах в процессе их производства, анализ брака.
Синхронизация измерений с другими, используемыми в испытаниях, измерительными устройствами.
Ограничение тока и напряжения на измеряемом объекте по установленному порогу.
Курсорные измерения.
Представление ВАХ в виде графиков и таблиц на экране персонального компъютера (ПК).
Вычисление расчётных параметров ППП и их функциональных зависимостей по результатам измерений.
Документирование и передача результатов измерений параметров ППП в электронном виде по локальной сети предприятия.
Формирование отчёта о полученных результатах.
Создание баз данных стандартных тестов по изделиям.
Работа с анализатором не требует специальных знаний в области программирования.
Измерение и анализ вольтамперных характеристик (ВАХ) в диапазонах токов до 20 А и напряжений до 2000 В
Динамическое отображение графика ВАХ при регулировке напряжения повторяющейся развертки вручную
Однократное измерение ВАХ по внутреннему или внешнему сигналу запуска развертки
Измеритель содержит каналы С (коллектор, сток), В (база, затвор), Е (эмиттер, исток), S (подложка)
Виды сигналов развертки в канале С:
полуволна синусоидального разрешения (10 мс)
три периода синусоидального напряжения (60 мс)
импульсы возрастающей амплитуды (0,2 мс ÷ 2 мс)
постоянное напряжение
Базовая погрешность измерений в каналах С, В, S – 1,5%
Проведение измерений не требует знаний в области программирования
Измерение параметров полупроводниковых приборов (в том числе на пластине), анализ брака
Ограничение тока и напряжения на электродах объекта тестирования по заранее установленным порогам в каналах С, В, S
Отображение измеренных и расчетных характеристик в виде графиков и таблиц
Сохранение таблиц в электронном виде
Формирование отчета по результатам измерения, расчета и допускаемого контроля параметров с указанием признака годности
Наличие библиотеки стандартных тестов для измерения параметров стандартных полупроводниковых приборов
Возможность создания библиотеки пользовательских тестов, путем задания параметров условий измерения
Возможность создания собственных моделей измерения по принципу: изделие, тестируемый элемент, тест
Создание собственного архива эталонных графиков с возможностью наложения эталонной ВАХ на измеренную характеристику
Измерения по маркерам, построение касательной
Инверсия полярности осей X и Y
Компенсация «петли», режим «экранной лупы»