Прибор имеет базовую модель ИППП-1 и модификации ИППП-1/1 – ИППП-1/6, отличающиеся количеством ИИО (источник-измеритель однопроводный) или ИИД (источник-измеритель двухпроводный)
Измерение параметров полупроводниковых приборов (ППП) и контроль тест-структур на пластинах в процессе их производства, анализ брака.
Синхронизация измерений с другими, используемыми в испытаниях, измерительными устройствами.
Ограничение тока и напряжения на измеряемом объекте по установленному порогу.
Курсорные измерения.
Представление ВАХ в виде графиков и таблиц на экране персонального компъютера (ПК).
Вычисление расчётных параметров ППП и их функциональных зависимостей по результатам измерений.
Документирование и передача результатов измерений параметров ППП в электронном виде по локальной сети предприятия.
Формирование отчёта о полученных результатах.
Создание баз данных стандартных тестов по изделиям.
Работа с анализатором не требует специальных знаний в области программирования.
4-канальная автоматизированная система для измерений параметров полупроводников (в т.ч. тест-структур на пластинах)
Исследование ВАХ 2-х, 3-х, 4-полюсников
Параметры каждого канала Источник/измеритель:- U: ±2 В, ±30 В (200 мА),
±120 В (±10 мА), I: ±20, ±200 нА, ±2, ±20, ±200 мкА, ±2, ±10мА, (±120В), ±20, ±200 мА ( ±30В)
Погрешность источника и измерителя U, I ±0,5%
Чувствительность измерителя U/I: 10 мкВ/0,1 пА
Графики, таблицы, тексты, базы данных
Интерфейс RS-232C, ПО для компьютера
Габариты, масса: 450х266х444 мм, 23 кг
Питание: ~220 В, 120 ВА